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ISBN 978-607-30-8086-6

Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

Autores:
González Mancera, Guillermina
Noguez Amaya, María Eugenia
Colaborador:Arenas Alatorre, Jesús (Prologuista)
Editorial:Universidad Nacional Autónoma de México
Materia:Ingeniería Química
Público objetivo:Profesional / académico
Publicado:2023-10-20
Número de edición:1
Tamaño:45Mb
Precio:$100
Soporte:Digital
Formato:Epub (.epub)
Idioma:Español

Reseña

El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

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