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ISBN 978-607-96162-0-5

Simposio metrología 2012

Autores:
González Juárez, Vicente
Becerra Santiago, Luis Omar
Peña Pérez, Luis Manuel
Galván Hernández, Carlos Alberto
Editorial:Centro Nacional de Metrología
Materia:Temas especiales de tecnología
Publicado:2013-05-15
Número de edición:1
Tamaño:110 MbMb
Soporte:Digital
Formato:Otros
Idioma:Español

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Buscarv - Cárdenas Arriaga, Teresa Noemi; Hernández Rodríguez, Rafael; Huerta Organista, Ricardo Adrián; Hernández Rodríguez, Nancy Araceli

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