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ISBN 978-607-30-7359-2

Fault Diagnosis and Tolerant Control: Applications

Autor:Morales Menéndez, Rubén; Verde Rodarte, María Cristina; Ramírez Mendoza, Ricardo Ambricio; Vallejo Guevara, Antonio Jr.; Zúñiga Castillo, Manuel Alejandro; Ramírez Cabrera, Luis Alejandro; Romero Galván, Gerardo; Alcorta García, Efrain; Muñoz Vázquez, Aldo Jonathan; Anzures Marín, Juan; Villalón Falcón, Adriana; Prieto Moreno, Alberto; Quiñones Grueiro, Marcos; Llanes Santiago, Orestes; Téllez Anguiano, Adriana del Carmen; Santos Ruiz, Ildeberto; López Estrada, Francisco Ronay; Puig, Vicenç; Valencia Palomo, Guillermo; Carrera Méndez, Rolando Alberto; Torres Ortíz, Flor Lizeth; Heras Cervantes, Mario
Editorial:Universidad Nacional Autónoma de México
Materia:Ingeniería eléctrica, electrónica
Publicado:2023-03-14

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